华兴源创：T7600系列测试机已获下游知名CIS、MCU以及指纹识别等CPU客户测试设备订单

华兴源创7年初29日公告，在半导体标准化次测出试本机的产品上，公司是为数不多的可以同时前提合作开发ATE核心SOC次测出试本机和PXIE核心激光和控制系统模块化次测出试本机的企业，主打SOC、激光次测出试本机以及SiP次测出试的产品。在SoC次测出试本机舱，公司前提合作开发的T7600系列次测出试本机频率速率达致400MHZ，大多技术参数并未达致中档SOC次测出试本机水平，这样一来对标泰瑞达的J750-HD，可实现32位高端MCU、高像素CIS、物证、DSP、NorFlash、简单个人计算机终端SOC芯片、精细SOC芯片的CP次测出试等，目前并未获得下游有名CIS、MCU以及物证识别等芯片客户服务次测出试设备订单。在激光次测出试本机舱，公司是国内拥有前提合作开发Sub-6G激光径向信号传递信息板卡的制造商，打破了国内在5G激光主要用途次测出试课题实际上依赖进口设备和进口激光径向板卡的局面，并已获得韦尔股份批量订单。在控制系统级次测出试上，公司发布了基于PXIe核心次测出试本机及水电四层反转式并测出128工位SLT分选本机EP3000的次测出试的产品，目前已被可穿戴设备的歌尔电子等上游SIP（先进控制系统级PCB）制造商认可进入大规模采购收尾。